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有的人认为磁头寿命是有限的,频繁的读写会加快磁头臂及磁头电机的磨损,频繁的读写磁盘某个区域更会使该区温度升高,将影响该区磁介质的稳定性还会导至读写错误,高温还会使该区因热膨涨而使磁头和碟面更近了(正常情况下磁头和碟面只有几个微米,更近还得了?),而且也会影响薄膜式磁头的数据读取灵敏度,会使晶体振荡器的时钟主频发生改变,还会造成硬盘电路元件失灵。
任务繁多也会导至IDE硬盘过早损坏,由于IDE硬盘自身的不足,,过多任务请求是会使寻道失败率上升导至磁头频繁复位(复位就是磁头回复到 0
磁道,以便重新寻道)加速磁头臂及磁头电机磨损。
我先说一下现代硬盘的工作原理
现在的硬盘,无论是IDE还是SCSI,采用的都是"温彻思特“技术,都有以下特点:1。磁头,盘片及运动机构密封。2。固定并高速旋转的镀磁盘片表面平整光滑。3。磁头沿盘片径向移动。4。磁头对盘片接触式启停,但工作时呈飞行状态不与盘片直接接触。
盘片:硬盘盘片是将磁粉附着在铝合金(新材料也有用玻璃)圆盘片的表面上.这些磁粉被划分成称为磁道的若干个同心圆,在每个同心圆的磁道上就好像有无数的任意排列的小磁铁,它们分别代表着0和1的状态。当这些小磁铁受到来自磁头的磁力影响时,其排列的方向会随之改变。利用磁头的磁力控制指定的一些小磁铁方向,使每个小磁铁都可以用来储存信息。
盘体:硬盘的盘体由多个盘片组成,这些盘片重叠在一起放在一个密封的盒中,它们在主轴电机的带动下以很高的速度旋转,其每分钟转速达3600,4500,5400,7200甚至以上。
磁头:硬盘的磁头用来读取或者修改盘片上磁性物质的状态,一般说来,每一个磁面都会有一个磁头,从最上面开始,从0开始编号。磁头在停止工作时,与磁盘是接触的,但是在工作时呈飞行状态。磁头采取在盘片的着陆区接触式启停的方式,着陆区不存放任何数据,磁头在此区域启停,不存在损伤任何数据的问题。读取数据时,盘片高速旋转,由于对磁头运动采取了精巧的空气动力学设计,此时磁头处于离盘面数据区0.2---0.5微米高度的”飞行状态“。既不与盘面接触造成磨损,又能可靠的读取数据。
电机:硬盘内的电机都为无刷电机,在高速轴承支撑下机械磨损很小,可以长时间连续工作。高速旋转的盘体产生了明显的陀螺效应,所以工作中的硬盘不宜运动,否则将加重轴承的工作负荷。硬盘磁头的寻道饲服电机多采用音圈式旋转或者直线运动步进电机,在饲服跟踪的调节下精确地跟踪盘片的磁道,所以在硬盘工作时不要有冲击碰撞,搬动时要小心轻放。
原理说到这里,大家都明白了吧?
首先,磁头和数据区是不会有接触的,所以不存在磨损的问题。
其次,一开机硬盘就处于旋转状态,主轴电机的旋转可以达到4500或者7200转每分钟,这和你是否使用FLASHGET BT或者ED都没有关系,只要一通电,它们就在转.它们的磨损也和软件无关。
再次,寻道电机控制下的磁头的运动,是左右来回移动的,而且幅度很小,从盘片的最内层(着陆区)启动,慢慢移动到最外层,再慢慢移动回来,一个磁道再到另一个磁道来寻找数据。不会有什么大规模跳跃的(又不是青蛙)。所以它的磨损也是可以忽略不记的。
那么,热量是怎么来的呢?
首先是主轴电机和寻道饲服电机的旋转,硬盘的温度主要是因为这个。
其次,高速旋转的盘体和空气之间的摩擦。这个也是主要因素。
而硬盘的读写???
很遗憾,它的发热量可以忽略不记!!!!!!!!!!
硬盘的读操作,是盘片上磁场的变化影响到磁头的电阻值,这个过程中盘片不会发热,磁头倒是因为电流发生变化,所以会有一点热量产生。写操作呢?正好反过来,通过磁头的电流强度不断发生变化,影响到盘片上的磁场,这一过程因为用到电磁感应,所以磁头发热量较大。但是盘片本身是不会发热的,因为盘片上的永磁体是冷性的,不会因为磁场变化而发热。
但是总的来说,磁头的发热量和前面两个比起来,是小巫见大巫了。
热量是可以辐射传导的,那么高热量对盘片上的永磁体会不会有伤害呢?其实伤害是很小的,永磁体消磁的温度,远远高于硬盘正常情况下产生的温度。当然,要是你的机箱散热不好,那可就怪不了别人了。
我这里不得不说一下大家的几个认识三。所谓寻道是指硬盘从初使位置移动到指定磁道。所谓的复位动作,并不是经常发生的。因为磁道的物理位置是存放在CMOS里面,硬盘并不需要移动回0磁道再重新出发。只要磁头一启动,所谓的复位动作就完成了,除非你重新启动电脑,不然复位动作就不会再发生。错误:
一。高温是影响到磁头的电阻感应灵敏度,所以才会产生读写错误,和永磁体没有关系。
二。所谓的热膨胀,不会拉近盘体和磁头的距离,因为磁头的飞行是空气动力学原理,在正常情况下始终和盘片保持一定距离。当然要是你大力打击硬盘,那么这个震动。。。。。
三。所谓寻道是指硬盘从初使位置移动到指定磁道。所谓的复位动作,并不是经常发生的。因为磁道的物理位置是存放在CMOS里面,硬盘并不需要移动回0磁道再重新出发。只要磁头一启动,所谓的复位动作就完成了,除非你重新启动电脑,不然复位动作就不会再发生。
四。IDE硬盘和SCSI硬盘的盘体结构是差不多的。只是SCSI硬盘的接口带宽比同时代的IDE硬盘要大,而且往往SCSI卡往往都会有一个类似CPU的东西来减缓主CPU的占用率。仅此而已,所以希捷才会把它的SCSI硬盘的技术用在IDE硬盘上。
五。硬盘的读写是以柱面的扇区为单位的。柱面也就是整个盘体中所有磁面的半径相同的同心磁道,而把每个磁道划分为若干个区就是所谓的扇区了。硬盘的写操作,是先写满一个扇区,再写同一柱面的下一个扇区的,在一个柱面完全写满前,磁头是不会移动到别的磁道上的。所以文件在硬盘上的存储,并不是像一般人的认为,是连续存放在一起的(从使用者来看是一起,但是从操作系统底层来看,其存放不是连续的)。所以FLASHGET BT或者ED开了再多的线程,磁头的寻道一般都不会比你一边玩游戏一边听歌大。当然,这种情况只是单纯的下载或者上传而已,但是其实在这个过程中,谁能保证自己不会启动其它需要读写硬盘的软件?可能很多人都喜欢一边下载一边玩游戏或者听歌吧?更不用说WINDOWS本身就需要频繁读写虚拟内存文件了。所以,用FG下载也好,BT ED也好,对硬盘的折磨和平时相比不会太厉害的。
六。再说说FLASHGET为什么开太多线程会不好和ED为什么硬盘读写频繁。首先,线程一多,cpu的占用率就高,换页动作也就频繁,从而虚拟内存读写频繁,至于为什么,学过操作系统原理的应该都知道,我这里就不说了。ED呢?同时从几个人那里下载一个文件,还有几个人同时在下载你的文件,这和FG开多线程是类似的。所以硬盘灯猛闪。但是,现在的硬盘是有缓存的,数据不是马上就写到硬盘上,而是先存放在缓存里面,,然后到一定量了再一次性写入硬盘。在FG里面再怎么设置都好,其实是先写到缓存里面的。但是这个过程也是需要CPU干预的,所以设置时间太短,CPU占用率也高,所以硬盘灯也还是猛闪的,因为虚拟文件在读写。
七。硬盘读写频繁,磁头臂在寻道伺服电机的驱动下移动频繁,但是对机械来说这点耗损虽有,其实不大。除非你的硬盘本身就有机械故障比如力臂变形之类的(水货最常见的故障)。真正耗损在于磁头,不断变化的电流会造成它的老化,但是和它的寿命相比。。。。。应该也是在合理范围内的。除非因为震动,磁头撞击到了盘体。
八。受高温影响的最严重的是机械的电路,特别是硬盘外面的那块电路板,上面的集成块在高温下会加速老化的。所以IBM的某款玻璃硬盘,虽然有坏道,但是一用某个软件,马上就不见了。再严重点的,换块线路板,也就正常了。就是这个原因.
总之,硬盘会因为环境不好和保养不当而影响寿命,但是这绝对不是软件的错。
FLASHGET也好,ED也好,FTP也好,它们虽然对硬盘的读写频繁,但是还不至于比你一般玩游戏一般听歌对硬盘伤害大.说得更加明白的话,它们对硬盘的所谓耗损,其实可以忽略不记.不要因为看见硬盘灯猛闪,就在那里瞎担心. |
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